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Perthometer S2粗糙度儀（DIN EN ISO 3274）
- 更新時間：2017-05-16
- 瀏覽次數(shù)：2060
Perthometer S2粗糙度儀（DIN EN ISO 3274）Perthometer S2馬爾粗糙度儀是可用于臺式儀器的移動測量儀器，適合現(xiàn)今制造環(huán)境下所有表面粗糙度的測量，操作簡易，性能高，適用于生產(chǎn)現(xiàn)場測量，，而且，可處理在現(xiàn)場不斷增加的測量任務(wù)，進行評定和文檔處理都表現(xiàn)出*的靈活性，按照照 ISO, JIS 和 ASME 標(biāo)準(zhǔn), 可進行對標(biāo)準(zhǔn)粗糙度, 波度及輪廓參數(shù)的評定。無滑
| 品牌 | Mahr/德國馬爾 |
|---|
Perthometer S2粗糙度儀(DIN EN ISO 3274）
Perthometer S2馬爾粗糙度儀是可用于臺式儀器的移動測量儀器，適合現(xiàn)今制造環(huán)境下所有表面粗糙度的測量，操作簡易，性能高，適用于生產(chǎn)現(xiàn)場測量，，而且，可處理在現(xiàn)場不斷增加的測量任務(wù)，進行評定和文檔處理都表現(xiàn)出*的靈活性，按照照 ISO, JIS 和 ASME 標(biāo)準(zhǔn), 可進行對標(biāo)準(zhǔn)粗糙度, 波度及輪廓參數(shù)的評定。無滑塊傳感器結(jié)合容易更換的測尖, 可快速實現(xiàn)不同的測量任務(wù)。
用途廣泛和簡易應(yīng)用的軟件功能, 例如:
- 自動設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)濾波器和掃瞄長度功能
- 校準(zhǔn)和維護周期監(jiān)察功能
- 弧線濾除功能
- 動態(tài)和靜態(tài)校準(zhǔn)程序
- 多達 41 種評定參數(shù), 按照 DIN EN ISO, JIS, ASME,
依照現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)可實現(xiàn)粗糙度和波度測量(DIN EN ISO 3274, 例如: 帶通濾波器)
- 重量輕 (不包括內(nèi)置充電電池)
- 高分辨率的圖形顯示, 可清晰顯示測量結(jié)果和輪廓
- 基于自動測量原理和多測量元素, 使得操作更簡單
- 通過內(nèi)置熱敏打印機, 快速打印測量記錄
- PCMCIA 存儲卡可存儲測量程序、測量結(jié)果和輪廓
- S2Prog 擴展程序, 可簡單地建立測量程序
MOTIF, R, W, P 和 D 輪廓及特性曲線, 并可設(shè)定MRC/ADC 不同比例縮放
-- 濾波器和掃瞄長度可選
-- 公差監(jiān)控, 以聲音和圖標(biāo)提示
-- 密碼保護功能, 防止錯誤的設(shè)置和修改
-- 內(nèi)置統(tǒng)計功能
-- 獨立功能按鍵
-- 簡易呼出和打印測量記錄及各種功能
外部接口
① 通過 PCMCIA 記憶于進行軟件升級
② SPC 接口可實現(xiàn) S2 與生產(chǎn)程序連接
③ RS 232 接口可實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸和遠程控制
技術(shù)特征： Perthometer S2. 配置 PZK 驅(qū)動器的臺式表面測量站 • 條形圖顯示傳感器位置信號 • 數(shù)字按鈕輸入
測量站組成： 測量站包括以下組件: • ST-G 工作臺帶 T型槽訂貨號 6710807 • PZK 夾持裝置 訂貨號 6851328 選配: | PZK驅(qū)動器 • PZK 驅(qū)動器內(nèi)置基準(zhǔn)面, 可實現(xiàn) 20 mm (.787 in) 長度的精密測量 約 0.7 mN; 測針 2 μm (80 μin)/90°), 可實現(xiàn)粗糙度和波度的移動測量 按需求選擇相應(yīng)測 針, 實現(xiàn)不同測量任務(wù), 測量范圍 ± 250 μm (± 10,000 μin) 測量工作臺 ST-G (長 x 闊), 中間帶有 10 mm T 型槽 300 mm (11.81 in) 選配 • PRN 10 粗糙度標(biāo)準(zhǔn)塊 含證書 |
篤摯儀器（上海）有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區(qū)的合作伙伴，憑借種類齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù)，涵蓋光學(xué)儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、量具量儀等各類檢測設(shè)備，努力為客戶解決日新月異的測量分析技術(shù)挑戰(zhàn)，共同提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動企業(yè)實現(xiàn)既定目標(biāo)。
